日本精工 SFT9400系列膜厚儀
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人氣：1065 發布時間：2009-07-14 10:14 關鍵詞：其它 產品型號： 應用領域：電磁輻射 產品價格：面議 想了解更多產品詳情，請 |
| SFT9400系列 X射線熒光鍍層厚度測量儀 |
| 產品副名稱：可滿足所有度層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層厚度測量儀 |
| 產品型號：SFT9400、SFT9450、SFT9455 |
| 產品特點： |
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★ 搭載有高功率X射線管及雙檢測器（半導體檢測器+比例計數管） 可對應組合復雜的應用程序，特別是可識別Ni和Cu之類能量較為接近的元素。 ? 能夠對Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次濾波器的情況下進行測量 ? 對于含Br的電路板，可以不受Br的干擾對Au的鍍層厚度進行高精度的測量 ? 可測量0.01μm以下的超薄的Au鍍層厚度 ★ 搭載塊體FP發軟件和薄膜FP法軟件 對應含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運用領域 ★ 適用超微小面積的測量 標準配備的15μmΦ的準直器，可對超微小面積進行測量。 ★ 搭載了可3段切換的變焦距光學系統 ★ 擁有防沖撞功能 ★ 搭載高精度樣品平臺，更可測量大型線路板（SFT9455） ★ 搭載激光對焦系統 ★ 搭載測試報告自動生成軟件 |
| SFT9400系列產品規格 |
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型號
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SFT9400/SFT9450/SFT9455
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儀器的特長
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微小面積對應及高性能型
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可測量元素
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原子序號22(Ti)~ 83(Bi)
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X射線源
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小型空氣冷卻型高功率X射線管球(Mo靶)
管電壓：50kV 管電流：1.5mA Be窗
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濾波器
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一次濾波器：Mo-自動切換
二次濾波器：無
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照射方式
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上方垂直照射方式
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檢測器
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半導體檢測器+比例計數管(不需液氮的檢測器)
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儀器校正
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自動校正+手動校正
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準直器(標準配置)
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○型(Φ0.015、Φ0.05、Φ0.1、Φ0.2mm)
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安全性能
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樣品室門鎖，樣品防沖撞功能
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樣品圖像對焦
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有(激光對焦)
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樣品觀察
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CCD攝像頭+倍率光學器+鹵素燈照明
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焦點切換功能
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3段切換9400：10/40/70mm
9450：10/25/40mm
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X-ray Station
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臺式電腦
(OS; MS-Windows XP®) |
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打印
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噴墨打印機
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應用
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單層、雙層、多成分合金薄膜、成分比同時測量、化學鎳
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軟件
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塊體FP法軟件、薄膜FP法軟件
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測量功能
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自動測量、中心搜索、圖像識別處理
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修正功能
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基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正
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統計處理功能
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MS-EXCEL®
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報告制作功能
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MS-WORD®
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