沃特世發布臺式質譜儀Xevo TQ-XS
美國馬薩諸塞州米爾福德市，2016年5月18日–沃特世公司（紐約證券交易所代碼：WAT）今日隆重推出了全新的Xevo®TQ-XS質譜儀——目前市場上靈敏度最高的臺式串聯四極桿質譜儀。該款質譜系統采用全新的StepWave™XS離軸離子源技術，并獨特地結合了離子光學器件、檢測技術和電離技術，能夠為用戶帶來前所未有的靈敏度水平。XevoTQ-XS預計上市時間為今年6月，并且將于5月18日至20日在日本大阪舉辦的質譜分析協會（MSSJ）會議上首次公開亮相，同時還將亮相6月5日至9日在美國德克薩斯州圣安東尼奧市召開的美國質譜年會（ASMS）。
XevoTQ-XS質譜儀
“利用超高效液相色譜-質譜（UPLC-MS）聯用技術進行定量研究變得越來越重要，它已經成為了科學家制定每個決策時都必須考慮的因素。當今的客戶需要執行可重現的定量研究，并且希望利用任何用戶都能操作的儀器達到更低的定量下限。在設計這款全新的質譜儀時，我們的產品設計師開創了電子與機械方面的一系列技術先河，”沃特世質譜產品管理高級總監GaryHarland表示，“他們憑借對儀器物理構造的全面了解，成功研制出了這款分析工具，從而將定量質譜分析的可靠性、重現性與性能水平提升到了一個全新的高度。”
這款產品所具備的性能提升依靠了多項先進技術。全新的StepWaveXS離軸離子源技術在第二級四極桿中配備了分段四極桿傳輸光學元件，能夠有效去除中性物質，從而以更強的聚焦離子束將離子傳輸至檢測器。通過這一技術，信噪比相較此前的StepWave技術提升了2至10倍，即使執行數千次進樣也能維持優異的穩定性。該系統的完善設計使其能夠輕松定量棘手的痕量化合物，即使這些化合物非常不穩定或傳輸效率低下，分析也絲毫不受影響。
沃特世還推出了無需工具即可維護的全新大氣壓電離探頭，極大地改善了用戶體驗。采用這些技術，科學家們在兩分鐘之內即可完成日常維護操作，這意味著不同操作人員所得分析結果的重現性會更高，而可進行樣品分析的時間也會更多。
XevoTQ-XS還配備了XDR檢測器。XDR檢測器首次出現于光電倍增管檢測系統XevoTQ-Smicro上，該系統能夠在覆蓋六個數量級的濃度范圍內定量樣品化合物。科學家們不再需要為了讓化合物濃度保持在所用儀器有限的動態范圍內而對樣品進行稀釋和重新進樣。
UniSpray™是XevoTQ-XS上配備的一款全新的專利型電離源，通過單次色譜運行即可電離各種分析物。它有效改善了極性范圍更廣的多種化合物的響應，信噪比也得以提高，使用戶能夠將數種分析方法整合為一種方法，或者能夠免除分析不同樣品時更換離子源的需求，極大縮短了分析時間并提高了實驗室的工作效率。
XevoTQ-XS系統是Xevo質譜儀系列的新成員，該系列包括XevoTQD、XevoTQ-Smicro和XevoG2-XSQTof等產品。Xevo系列質譜儀以其通用的離子源結構著稱：可互換的離子源只需數分鐘即可安裝到儀質譜儀表面或從儀器上拆卸下來，而無需先排空系統內的氣體。對于那些缺乏在高通量實驗室中操作質譜的相關經驗的分析化學家而言，這改變了他們的工作方式，有助于確保他們以最優性能使用儀器。
沃特世公司將將于美國質譜年會（ASMS）上展示XevoTQ-XS系統（美國德克薩斯州GrandHyatt酒店宴會B廳和C廳），并作為6月4日（星期六）在德克薩斯州圣安東尼奧市舉行的沃特世公司質譜用戶會議上多場演講的重點。
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